ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ КОЭФФИЦИЕНТОВ КРИСТАЛЛОВ КЛАССА 3M
Продукт: Прибор для определения электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m .
Суть разработки: Интерференционно-поляризационный метод, основанный на коноскопической схеме с применением методов компьютерного зрения.
Прибор для определения электрооптических коэффициентов кристаллов представляет собой программно-аппаратное решение с большим количеством приборов тонкой настройки и сложной конструкцией.
Данный прибор используются при расчётах значимых физических характеристик световой волны, таких как интенсивность излучения, изменение показателя преломления, фазовая задержка. И во всех сферах использования для сокращения доли производственного брака при изготовлении приборов необходимо точно определять электрооптические коэффициенты кристаллов.
ПРИМЕНЕНИЕ ПРОДУКТА
В настоящее время кристаллы имеют широкие сферы применения – в телекоммуникационных технологиях, так как кристаллы используются в модуляторах излучения в оптоволокне, в датчиках различных величин — температуры, давления, силы, вибрации, толщины, и в ультразвуковых приборах, так как в них используются пьезопреобразователи на основе кристаллов. Кроме того, кристаллы применяются при создании голограмм, лазеров, научно-исследовательского оборудования, солнечных батарей.
- Модуляция оптоволоконного излучения
- Научно-исследовательские приборы и датчики
- Ультразвуковые технологии
- Голографические технологии
ПРИМЕНЕНИЕ ПРИБОРА:
ЭТАПЫ РАЗВИТИЯ ПРОДУКТА:
1. Разработка и исследование работы лабораторного образца прибора для определения электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m.
2. Определение электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m на примере ниобата лития.
3.Экспериментальные исследования электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m с помощью лабораторного образца с учетом влияния электрострикции и температуры.
4. Исследование и анализ полученных экспериментальных данных.
5.Доработка и модификация лабораторного образца прибора для определения электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m коноскопическим методом на основе серии проведённых экспериментальных исследований.
06.12.2021