ПРИБОР ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ КОЭФФИЦИЕНТОВ КРИСТАЛЛОВ КЛАССА 3M

Продукт: Прибор для определения электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m .

Суть разработки: Интерференционно-поляризационный метод, основанный на коноскопической схеме с применением методов компьютерного зрения.

Прибор для определения электрооптических коэффициентов кристаллов представляет собой программно-аппаратное решение с большим количеством приборов тонкой настройки и сложной конструкцией.

Данный прибор используются при расчётах значимых физических характеристик световой волны, таких как интенсивность излучения, изменение показателя преломления, фазовая задержка. И во всех сферах использования для сокращения доли производственного брака при изготовлении приборов необходимо точно определять электрооптические коэффициенты кристаллов.

ПРИМЕНЕНИЕ ПРОДУКТА

В настоящее время кристаллы имеют широкие сферы применения – в телекоммуникационных технологиях, так как кристаллы используются в модуляторах излучения в оптоволокне, в датчиках различных величин — температуры, давления, силы, вибрации, толщины, и в ультразвуковых приборах, так как в них используются пьезопреобразователи на основе кристаллов. Кроме того, кристаллы применяются при создании голограмм, лазеров, научно-исследовательского оборудования, солнечных батарей.

  • Модуляция оптоволоконного излучения
  • Научно-исследовательские приборы и датчики
  • Ультразвуковые технологии
  • Голографические технологии

ПРИМЕНЕНИЕ ПРИБОРА:

ЭТАПЫ РАЗВИТИЯ ПРОДУКТА:

1. Разработка и исследование работы лабораторного образца прибора для определения электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m.

2. Определение электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m на примере ниобата лития.

3.Экспериментальные исследования электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m с помощью лабораторного образца с учетом влияния электрострикции и температуры.

4. Исследование и анализ полученных экспериментальных данных.

5.Доработка и модификация лабораторного образца прибора для определения электрооптических коэффициентов кристаллов класса 3m коноскопическим методом на основе серии проведённых экспериментальных исследований.

 

06.12.2021